医疗器械检测中的光学显微镜与扫描电子显微镜

光学显微镜和扫描电子显微镜是医疗器械行业的基本检查方法，每种方法都具有独特的优点和能力。

扫描电子显微镜（SEM）和光学显微镜（OM）之间的主要区别在于应用于样品的光束类型。对于光学显微镜，应用光束，允许观察者分析光与样品相互作用时的效果。相比之下，扫描电子显微镜使用一束电子来检查样品，允许观察者分析电子与材料相互作用时的影响。

利与弊

光学显微镜是用于一般检查目的的理想方法，但扫描电子显微镜可以为用户提供难以置信的详细地形和成分信息。扫描电子显微镜通常具有三种类型的检测器：二次电子检测器（SED）、背散射电子检测器（BSED）和能量色散光谱检测器（EDS）。

SED向用户提供详细的地形信息，因为二次电子主要与样品表面相互作用并具有较大的反射角，而BSD向用户提供基本地形和基本成分信息，因为背散射电子会进一步穿透材料，反射角较小。成分数据是相对的——低原子序数材料在SEM中显示为深色，高原子序数材料在SEM中显示为浅色，但BSD无法提供确切的化学成分。

EDS提供了详细的化学成分信息。在某些情况下，使用扫描电子显微镜作为二次检查方法是有益的。首先，光学显微镜被用来观察严重的缺陷。使用这种方法可以很容易地操纵样本，并且可以相对快速地绘制和记录所有重大缺陷，以供进一步审查。接下来，使用扫描电子显微镜更详细地观察图表上的大缺陷，并观察光学显微镜看不到的微缺陷。这种两阶段的方法结合了每种检测方法的优点，并在更短的时间内为客户提供更详细的检测(与只使用sem的全表面检测相比)。

万博官网app体育Element有一个Aspex 3025型SEM系统，具有自动特征分析（AFA）软件和EDS（能量色散谱）功能。该系统用于检查医疗器械的缺陷以及颗粒分析研究。对于后者，从装置中脱落的微粒被捕获在镀金或镀碳过滤器上，并将多达6个过滤器放置在SEM中进行后续分析。AFA软件单独分析每个过滤器，并收集每个粒子的大量数据。

结论

光学显微镜和扫描电子显微镜是医疗器械行业的基本检查方法，Element提供这两种功能。每种方法都有优点和缺点，我们的测试工程师将帮助您确定哪种方法最适合您的测试需求。结合我们丰富的测试知识，您可以确信Element提供的检查数据是业界最好的。万博官网app体育